NI với bộ truyền động không dây, giảm chi phí hiệu quả 

” Các xu thế năm 2000, chẳng hạn như Internet of Things (IOT), sẽ thúc đẩy các thiết bị khác phải bao gồm RF và cảm biến chức năng, các thiết bị được cho là tốn kém để thử nghiệm. Nhưng chi phí thử nghiệm không nên hạn chế sự sáng tạo hoặc về mặt kinh tế của một sản phẩm “, Olga Shapiro, Giám đốc chương trình đo lường và thiết bị đo đạc tại Frost & Sullivan cho biết. “Để duy trì lợi nhuận trong tương lai, công ty sẽ cần phải cân nhắc lại phương pháp của họ để thử nghiệm không dây và nắm lấy mô thức mới. Bởi vì WTS được xây dựng trên nền tảng công nghiệp PXI đã được chứng minh và được hỗ trợ với các chuyên gia thị trường của NI, chúng tôi hy vọng nó sẽ có tác động đáng kể vào lợi nhuận của các IOT. “

Các WTS kết hợp những tiến bộ mới nhất trong phần cứng PXI để cung cấp một nền tảng duy nhất dành cho các hệ thống đa tiêu chuẩn, DUT đa phương và kiểm nghiệm đa cổng. Khi được sử dụng với các phần mềm kiểm tra trình tự linh hoạt, chẳng hạn như thử nghiệm module TestStand không dây, các nhà sản xuất có thể cải thiện đáng kể sử dụng công cụ khi thử nghiệm với nhiều thiết bị chạy song song. Các WTS tích hợp dễ dàng vào một dây chuyền sản xuất với trình tự kiểm tra sẵn sàng để chạy cho các thiết bị sử dụng chipset của nhà cung cấp như Qualcomm và Broadcom cũng như DUT tích hợp và điều khiển tự động từ xa. Với các tính năng này, khách hàng được nhìn thấy lợi nhuận hiệu quả đáng kể từ các thiết bị kiểm tra RF của họ và tiếp tục giảm chi phí của họ về kiểm tra.
“Chúng tôi đã thử nghiệm nhiều công nghệ không dây khác nhau, từ Bluetooth WiFi để GPS và mạng di động với tất cả hệ thống cùng một thiết bị sử dụng hệ thống kiểm tra NI không dây”, Markus Krauss, HARMAN / Becker Automotive Systems GmbH cho biết. “Các WTS và NOFFZ của thử nghiệm RF chuyên môn kỹ thuật đã giúp chúng tôi làm giảm đáng kể thời gian thử nghiệm và thời gian chết để có được hệ thống thử nghiệm và chạy tốt. “

Những WTS là hệ thống mới nhất từ NI xây dựng trên phần cứng PXI và LabVIEW và phần mềm TestStand (xem System Test Semiconductor ra mắt vào năm 2014). Với sự hỗ trợ cho các tiêu chuẩn không dây từ LTE Cao cấp đến 802.11ac với Bluetooth Low Energy, các WTS được thiết kế để sản xuất thử nghiệm những điểm truy cập WLAN, điện thoại di động, hệ thống thông tin giải trí và các thiết bị đa tiêu chuẩn khác bao gồm, tiêu chuẩn kết nối không dây và điều hướng di động. Phần mềm thiết kế vector PXI công nghệ tín hiệu thu phát bên trong WTS mang lại hiệu RF cao trong môi trường thử nghiệm sản xuất và một nền tảng có thể mở rộng quy mô với các yêu cầu phát triển của thử nghiệm RF.